SHIBASOKU芝測ILT-1000L負(fù)荷測試系統(tǒng)SHIBASOKU

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ILT-1000　L負(fù)荷テストシステム（2000V/100A/200V）

ILT - 1000，MOS - fet的L負(fù)荷的斷開時的波形進(jìn)行觀測，設(shè)定的VGATE，IH，白細(xì)胞介素組成的Vsus區(qū)域的保證GO / NO判定檢測。

特征

Vsus，IDP，TG的判定及可以顯示

短短數(shù)ms（測量條件的不同，不同）測試完畢

2站蹺蹺板蹺蹺板

線圈用固定線圈，外觀也測量也的安裝。

TG監(jiān)視，測試程序中被的線圈以外被安裝時，可檢測

Item／項(xiàng)目 Setup range／設(shè)定範(fàn)囲 Resolution power／分解能

drain electric current（ID） 0.5A～100.0A 0.1A

drain voltage（VD） 10.0V～200.0V 0.1V

gate forward voltage（VGS） 0.0V～30.0V 0.1V

gate reverse voltage（VGR） -0.0V～-30.0V 0.1V

area designated electric current （IH/IL） 0.2A～100.0A 0.1A

Vsus limit（V-GATE） 10V～2000V 1V

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