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MK-300成像光譜儀BUNKOUKEIKI分光計器用途 單色儀

簡要描述:

MK-300成像光譜儀BUNKOUKEIKI分光計器用途
采用新設(shè)計光學系統(tǒng)的正式聚氯乙烯。
CCD檢測受光面全域空間分辨率優(yōu)異。使用支管光纖等進行多點同時光譜測量,以及通過與顯微鏡連接進行光譜測量等。
MK-300成像光譜儀
EMDP-100埃殼光譜系統(tǒng)
CLP-400透鏡光譜儀
CLP-50顯微鏡連接用成像光譜儀
CLP-105 UV紫外線成像光譜儀
MCC-135多波長同時測量相機

咨詢電話:0755-28286052

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MK-300成像光譜儀BUNKOUKEIKI分光計器用途

MK-300成像光譜儀BUNKOUKEIKI分光計器用途

 

MK-300成像光譜儀

采用新設(shè)計光學系統(tǒng)的正式聚氯乙烯。

CCD檢測受光面全域空間分辨率優(yōu)異。使用支管光纖等進行多點同時光譜測量,以及通過與顯微鏡連接進行光譜測量等。

衍射光柵最多可以搭載3張,搭載了電氣控制器,可以用USB電纜連接PC,用附帶的專用軟件進行波長驅(qū)動和衍射光柵切換。

特點:

將散光減少到極限,大幅改善波長兩端產(chǎn)生的分辨率降低

最多可以安裝3個衍射光柵

多點同時光譜測量

觀測圖像的光譜測量

檢測器的切換類型也有陣容。

規(guī)格:

反線型方差 2.58nm/mm

光學系統(tǒng) 像差校正型特殊光學系統(tǒng)

亮度 F=4.4

波長分辨率 半幅0.2nm3pixels以內(nèi))

迷光 5×10-3以下

波長準確度 ±0.2nm3pixels以內(nèi))

波長再現(xiàn)性 ±0.2nm3pixels以內(nèi))

衍射光柵切換再現(xiàn)性 ±0.2nm3pixels以內(nèi))

光學波長范圍 2001000nm

波長移動方式 正弦機構(gòu)、波長線性移動

波長驅(qū)動方式 步進馬達驅(qū)動(PC?專用軟件控制)

衍射光柵 時刻線有效50×50mm

衍射光柵切換方式 步進馬達驅(qū)動(最多可搭載3張)

入射狹縫 寬度:0.014mm(雙開對稱連續(xù)可變?讀取最小刻度0.01mm

手動快門(可選擇自動快門)

軟件 衍射光柵切換·波長移動(USB連接)

CCD檢測器受光尺寸26.6mm1024×256pixels 26µm/pixels)的情況

 

EMDP-100光譜系統(tǒng)

這是一種通過Retroller色散棱鏡和E殼衍射光柵的交叉分散雙光譜配置,能夠以高分辨率同時測量廣波長范圍的系統(tǒng)。搭載ANDORICCD檢測器,可以使用分光儀表專用軟件Blux進行控制。

通過結(jié)合各種測量用光學系統(tǒng),可以對應等離子體光譜、PLLIBS等所有測量。

特點:

一臺E殼光譜系統(tǒng)實現(xiàn)了波長范圍200900nm的測量。

通過選擇Retroller色散棱鏡,可以從P1200270nm)、P2270410nm)、P3410900nm3種測量波長范圍中選擇。

測量分辨率在整個區(qū)域8500λ/△λ)達到以上。

在專用軟件Blux中,可以進行從ICCD檢測器測量的數(shù)據(jù)讀取到光譜顯示的數(shù)據(jù)處理(波長、順序連接、等間隔校正等)。

 

規(guī)格:

光學布置 交叉色散雙光譜儀

測量波長范圍【3波長范圍】 200900nm200270nmP1)?270410nmP2)?410900nmP3)】

測量分辨率 8500以上(狹縫寬度50μm)

半光譜寬度 0.020.1nm200900nm

焦距 波長色散用330mm階數(shù)分離用200mm

開口比 F=10

波長色散 埃殼衍射光柵

次方差 利特勒分散棱鏡

入射端口 XY調(diào)整功能的光纖支架

 

ICCD元件數(shù) W2048×H512 pixel(有效1800×512pixel)

ICCD元件尺寸 13.5×13.5μm

ICCD區(qū)域大小 W27.648mm×H6.912mm(有效W24.975mm×H6.912mm

 

MK-300成像光譜儀

EMDP-100埃殼光譜系統(tǒng)

CLP-400透鏡光譜儀

CLP-50顯微鏡連接用成像光譜儀

CLP-105 UV紫外線成像光譜儀

MCC-135多波長同時測量相機

 

重氫光源30W

鹵素燈電源

Xseries氙燈光源(通常)

XERseries氙燈光源(反射器)

Nseries陶瓷加熱器光源(紅外光源)

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