IKEIDARIKA池田理化正電子光譜TypeL-II-AS

IKEIDARIKA池田理化正電子光譜TypeL-II-AS

PSA TypeL-II ,TypeL-II-AS,PSA TypeL-P

正電子壽命光譜是一種非破壞性和高度靈敏的方法，用于評(píng)估原子級(jí)缺陷、分子間空隙和空位結(jié)構(gòu)。L-II型是可以高精度測(cè)量小型試件的機(jī)型，主要面向研究開發(fā)現(xiàn)場(chǎng)使用。與用于現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量的LP型相比，它在測(cè)量精度和測(cè)量效率方面具有優(yōu)勢(shì)。L-II-AS型是在L-II型上安裝了進(jìn)樣器機(jī)構(gòu)的型號(hào)。連續(xù)測(cè)量固定形狀的樣品時(shí)，無(wú)需更換樣品即可高效獲取數(shù)據(jù)。

正電子壽命測(cè)定法是評(píng)價(jià)空位型晶格缺陷、分子間空隙等微小空隙的非破壞性、高靈敏度的方法。這些微孔的測(cè)量實(shí)例有很多，作為材料劣化行為的有用評(píng)價(jià)指標(biāo)，無(wú)論它們是金屬還是聚合物。

該設(shè)備PSA TypeL-P主要針對(duì)現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量，具有比標(biāo)準(zhǔn)型號(hào)(PSA TypeL-II)更小、更輕的專門結(jié)構(gòu)。此外，利用新技術(shù)"反符合系統(tǒng)"，可以進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量，甚至可以對(duì)大型結(jié)構(gòu)進(jìn)行非破壞性測(cè)量。

特征:

可以進(jìn)行亞納米級(jí)的微孔評(píng)價(jià)(測(cè)量對(duì)象:金屬、聚合物等)。

無(wú)損測(cè)量。

可用手機(jī)電池供電。

緊湊輕巧的結(jié)構(gòu)(單手即可攜帶)。